0% Complete
صفحه اصلی
/
سومین کنفرانس ملی فناوری های نوین در انرژی
Deposition temperature effects on microstructure of Te thin films
نویسندگان :
Mahdi Manouchehrian
1
1- ازاد اسلامی تهران جنوب
کلمات کلیدی :
Tellurium،thin films،XRD،SEM
چکیده :
In this work, effect of deposition temperature on the microstructure of tellurium thin films has been studied. Tellurium thin films with different deposition temperatures have been deposited on Al2O3 substrate by thermal evaporation. X-ray diffraction (XRD) analysis and scanning electron microscope (SEM) are used for characterizing the prepared samples. XRD patterns indicate that as deposition temperature increases, the crystallinity of the films increases. SEM micrographs show that the grain size increases with deposition temperature increase, and consequently, fewer defects are found in the surface of the film
لیست مقالات
لیست مقالات بایگانی شده
مقایسه فیلتر پایین گذر گوسی فرکانسی و فیلتر پایین گذر ایده آل برای حذف نویز فلفل نمکی
جلال ایزی - نیلوفر فرناد - یاسر علمی سولا
مدل اصلاح شدة ایزوترمِ جذبِ دوحالتة رنگزاهایِ دیسپرس توسط الیاف پلیمری
نوید ربیعی
Green synthesis of silver nanoparticles using extract of plant: Characterizations and antibacterial activity
Zahra Lasemi
دیپلماسی هوش مصنوعی؛ فرصتها و چالشها
سید مصطفی شریفی - گارینه کشیشیان سیرکی - حسن خداوردی
مطالعه اثرگذاری نوآوری و کارآفرینی بر مدیریت توسعه پایدار
امیرعباس فرهمند - امیر حسن کسرائی
افزایش راندمان نیروگاه خورشیدی فوتوولتائیک از طریق گاز مایع حاصل از انرژی زیست توده
مصطفی خلعتبری - اشکان عبدالی سوسن - احمد خوشگرد
بررسی تاثیر گیمیفیکیشن (بازی وار سازی) در مکان سازی خلاق شهر هوشمند
علی فخاریان
تاثیر فناوری اطلاعات و ارتباطات و دسترسی مالی بر نابرابری درآمدی در کشور های منتخب خاور میانه
زهرا گودرزی - بهزاد زینالی - محمد خضری
استفاده از قدرت الگوریتم های مولد در طراحی
احمدرضا ثامنی - ژیلا رضاخانی - علی رضا کریم پور - روح الله زابلی
Energy Absorption Evaluating of Corrugated Composite Sandwich panel and Corrugated Composite Sandwich Panels Reinforced by without Pre-strain Shape Memory Alloy Wires under Compression test
Morteza Rajabpour - Seyed mohamadreza Khalili - Reza Eslami-Farsani
بیشتر
ثمین همایش، سامانه مدیریت کنفرانس ها و جشنواره ها - نگارش 42.3.3