0% Complete
صفحه اصلی
/
سومین کنفرانس ملی فناوری های نوین در انرژی
Deposition temperature effects on microstructure of Te thin films
نویسندگان :
Mahdi Manouchehrian
1
1- ازاد اسلامی تهران جنوب
کلمات کلیدی :
Tellurium،thin films،XRD،SEM
چکیده :
In this work, effect of deposition temperature on the microstructure of tellurium thin films has been studied. Tellurium thin films with different deposition temperatures have been deposited on Al2O3 substrate by thermal evaporation. X-ray diffraction (XRD) analysis and scanning electron microscope (SEM) are used for characterizing the prepared samples. XRD patterns indicate that as deposition temperature increases, the crystallinity of the films increases. SEM micrographs show that the grain size increases with deposition temperature increase, and consequently, fewer defects are found in the surface of the film
لیست مقالات
لیست مقالات بایگانی شده
حسابداری داراییهای نامشهود: راهحلهای پیشنهادی
مهناز ژیان نصرالهی - مهدی علی نژاد ساروکلائی
مدلسازی فرکتالی عیار-حجم برای یافتن بخش های مناسب زغال سنگ در لایه K11 کانسار کوچکعلی شمالی، طبس
مجتبی بازرگانی گلشن - مهران آرین - پیمان افضل - لی لی دانشور صایین - محسن آل علی
تاثیر اطمینان بیش از حد مدیران بر مخاطرات اخلاقی با در نظر گرفتن عدم شفافیت جریانهای نقدی
سیعد انور خطیبی - محمدرضا کوی بران
بررسی نقش نوآوری مدل کسب و کار بر بهبود عملکرد صادراتی
حمید کاکائی - علی دانش زاد - فاطمه زندی - کتایون جلالیان
کاربرد هوش مصنوعی در حقوق
فیروزه حیدرزاده
نقش هوش مصنوعی در توسعه و مدیریت شهرهای هوشمند: چالشها، فرصتها و آینده
زهرا تمیمی - دانیال قویدل منگوده - حسن قلمی باویل علیایی
تأثیر هوش مصنوعی عمومی بر چشم انداز فناوری آینده
نیما حاجیان افراکتی
تاثیر میدان های الکترومغناطیسی بر روی بدن انسان و سلامت آنها
توحید علیرضائی
بررسی فناوری های بازیابی گوگرد از گاز اسیدی ترش
یاسمن رازبان - هومن فتوره چی
چالشهای پیادهسازی مدیریت دانش در بستر تحول دیجیتال و راهبرد سرمایه های انسانی دانش بنیان نوآور
امیدرضا محمودی نیلو - اشرف شاه منصوری - سید صدیقه جلال پور
بیشتر
ثمین همایش، سامانه مدیریت کنفرانس ها و جشنواره ها - نگارش 41.3.1