0% Complete
صفحه اصلی
/
سومین کنفرانس ملی فناوری های نوین در انرژی
Deposition temperature effects on microstructure of Te thin films
نویسندگان :
Mahdi Manouchehrian
1
1- ازاد اسلامی تهران جنوب
کلمات کلیدی :
Tellurium،thin films،XRD،SEM
چکیده :
In this work, effect of deposition temperature on the microstructure of tellurium thin films has been studied. Tellurium thin films with different deposition temperatures have been deposited on Al2O3 substrate by thermal evaporation. X-ray diffraction (XRD) analysis and scanning electron microscope (SEM) are used for characterizing the prepared samples. XRD patterns indicate that as deposition temperature increases, the crystallinity of the films increases. SEM micrographs show that the grain size increases with deposition temperature increase, and consequently, fewer defects are found in the surface of the film
لیست مقالات
لیست مقالات بایگانی شده
دستگاه لمسی مبتنی بر پین برای افراد دارای اختلال بینایی: تشخیص لبه بلادرنگ و بازنمایی لمسی با استفاده از هوش مصنوعی
آرمیتا میرزاباقی
بررسی تاثیر خوش بینی مدیر عامل و اندازه شرکت بر اجتناب مالیاتی
احمد حشمتی - محسن حمیدیان
تهیه پوشش هایی بر پایه نانوکیتوزان اصلاح شده با کربوکسی متیل سلولز جهت افزایش ماندگاری قارچ خوراکی دکمه ای
فاطمه عظیم خانی - شاهین تفنگدارزاده
معماری ادراک و بهینهسازی معماری غرفههای نمایشگاهی (حال و آینده)
آزاد بهمنش - مهدی خاکزند - حدیثه کامران کسمایی
جستجویی در ارتباط بصری فضای شهری در شکلگیری حس تعلق افراد به فضا
کیوان نائم - احمد میرزا محمدی
کاربرد الیاف و منسوجات هوشمند در طراحی لباس
نگار آقابابازاده
تبیین اثر تسهیم دانش بر موفقیت برنامههای تحول سازمانی
نرجس کردی - ملیکه بهشتی فر - یاسمن سیستانی مقدم
کاربرد هوش مصنوعی در حوزه پزشکی
ناهید خسروی - مریم حاجی ئی
توسعه سرمایه انسانی برای مشاغل آینده در عصر پلتفرمهای دیجیتال: یک مرور سیستماتیک
رویا زمانی کاوه - ماشالله ولیخانی - سمیه قجری
اثرات آستانه ای فناوریهای نوین مالی (فین تک) و ارزش برند بر مدیریت ریسکهای بانکی با تاکید بر شاخصهای رقابت پذیری و ثبات مالی
بیتا افندی زاده - فاطمه صراف
بیشتر
ثمین همایش، سامانه مدیریت کنفرانس ها و جشنواره ها - نگارش 44.4.0