0% Complete
صفحه اصلی
/
سومین کنفرانس ملی فناوری های نوین در انرژی
Thickness influence on the gas sensing properties of Te thin films
نویسندگان :
Mahdi Manouchehrian
1
1- ازاد اسلامی تهران جنوب
کلمات کلیدی :
Thin films،Semiconductors،Vapor deposition،X-ray diffraction
چکیده :
In this research, tellurium thin films were investigated for use as hydrogen sulfide gas sensors. To this end, a tellurium thin film has been deposited on Al2o3 substrates by thermal evaporation, and the influence of thickness on the sensitivity of the tellurium thin film for measuring H2S gas is studied. XRD patterns indicate that as the thickness increases, the crystallization improves. Observing the images obtained by SEM, it is seen that the grain size increases as the thickness increases. Studying the effect of thickness on H2S gas measurement, it became obvious that as the thickness increases, the sensitivity decreases and the response and recovery times increase
لیست مقالات
لیست مقالات بایگانی شده
بررسی مدیریت ریسک به وسیله BIM در ساختمان های با مصالح بنایی
مرتضی شریفی - فرزاد کاردان
تجزیه و تحلیل میکروسکوپی ناحیۀ جوش فولاد ضد زنگ از نقطه نظر متالورژیکی و خواص ریزساختاری
سید علیرضا موسوی شیرازی - علی وائل سلمان صنگور
تکنیک های هوش مصنوعی بر تحول دیجیتال در صنعت بانکداری
ابوالفضل فرجی
پلیمریزاسیون مینی امولسیونی استایرن با نانو ذره گرافن اکساید و بررسی و تاثیر تست SEM و FTIR بر آن
ساجده جدی - علیرضا عقیلی
طراحی مدل مفهومی هدف گذاری هوشمند در بازاریابی بانک ها
فریماه فیاض - محمدحسین آقایی پور - فرزانه بیک زاده عباسی
اخلاق در روانشناسی و هوش مصنوعی( بررسی مرزهای اخلاقی در جمعآوری دادههای روانشناختی، تصمیمگیریهای درمانی خودکار، و مداخله در احساسات انسان)
کتایون حدادی - مهدیس خوش اخلاق
تحلیل انرژی مواد ( نفت و گاز ) و مصرف انرژی درکشور عراق
حمید رضا شهروی - جواد علمایی - مرتضی خردمندی - علی صدر
سنتزCuFe12O19
بیتا جاویدان - پروین غربانی - پروین غربانی
دیپلماسی انرژی ایران در حوزه منطقه ای: (2003-2023)
دکتر رضا شهنازی زاده - دکتر گارینه کشیشیان (نویسنده مسئول)
تاثیر اطمینان بیش از حد مدیران بر مخاطرات اخلاقی با در نظر گرفتن عدم شفافیت جریانهای نقدی
سیعد انور خطیبی - محمدرضا کوی بران
بیشتر
ثمین همایش، سامانه مدیریت کنفرانس ها و جشنواره ها - نگارش 42.2.6